半導体検査システム

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エレクトロニクスの最前線に、理化電子の超高精度加工技術。

さらに極小に、さらに高速に。半導体に要求される高性能は、そのまま私たちが手がける半導体検査システムにも求められます。 時代によってどのように半導体の仕様が移り変わろうとも、私たち理化電子は、極めて精度の高い加工技術と幅広い対応力でご要望にお応えし、プローブからテ ストヘッド、フィクスチャーまで一貫した解決策をご提案します。

多岐にわたるニーズをひとつひとつカタチにした[プローブ]

理化電子がご提供できるプローブの種類は、非常に多岐にわたっています。それは、ファインピッチ化、高周波対応による高速化、高耐熱性・大電流対応、鉛フリーへの移行といった、年々高度化し細分化する一方であるプローブへの要求にひとつひとつお応えした証でもあります。

さまざまな環境や用途に対応する[IC ソケット&テストフィクスチャー]

ICソケットやテストフィクスチャーの開発では、お客様のアプリケーションや使用環境に合わせてハウジング素材を選定し、樹脂部分の設計から加工、組立、出荷検査までを行うトータルソリューションをご提案いたします。

ハイレベルな各試験を可能にし厳格な品質管理を実現する[検査機器]

高度な信頼性試験や環境試験を可能にする、SEM/EPMAやX線検査装置といった検査機器を導入しています。また、お客様優先の行動指針に基づいた、全社を挙げてのCS活動を推進し、厳格な品質管理に取り組んでいます。

事業内容

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